IEC 60751:2008 被视为国际标准，规定了铂 RTD 元件的公差。Pt100 RTD温度传感器的两个zui常见的公差是 A 级和 B 级，对于更接近的公差，1/3 DIN 和 1/10 DIN 标准可用。元素公差越高，偏离温度-电阻曲线的范围越广，增加了不确定性水平，尽管严格来说这并不能使 1/10 DIN 检测器比 B 类检测器更准确，但它确实显着降低了阅读的不确定性。下表显示了 DIN 43760 定义的 A 级和 B 级探测器的公差，然后使用这些标准找出 1/3 DIN 和 1/10 DIN 探测器的公差。如您所见，B 类探测器的公差比 1/10 DIN 探测器的公差高十倍，这意味着 B 类探测器的读数不确定度是 1/10 DIN 探测器的十倍。应该注意的是，下表中定义的公差仅适用于裸装测器，并未考虑完整传感器的设计或构造。

不确定因素

在尝试定义 RTD温度传感器精度时，需要考虑三个主要的不确定性：

• 检测器容差

• 传感器结构造成的不确定性

• 校准程序的不确定性

第二点和第三点很难准确预测，因为必须考虑自热和阀杆传导。

在 RTD温度传感器仅部分浸入测量变量的情况下，可能会发生探杆导。通常，您的zui小浸入深度应不小于探测器或传感结长度的四倍。 

如果浸入深度较小，则会发生探杆导误差，这是通过杆或护套传入或传出被测变量的热传递的影响，例如，如果传感器护套在环境温度下比被测变量更热将被转移到创建读数不确定性的变量中。 

可通过增加浸入长度、减小护套壁厚或改变护套材料来降低探杆传导效应。 

干传导错误zui常发生在实验室条件下；但是必须指出的是，它们可能会导致其他行业出现重大错误。

根据经验，RTD温度传感器应浸入元件长度的 4 倍。（平膜元件通常为 2-3 毫米，而绕线元件约为 15 毫米或更多） 。

长期稳定性和重复性

RTD温度传感器以其出色的稳定性和可重复性而闻名；然而，传感器结构、测量环境和极端温度会影响长期稳定性。 

作为指导，据估计，在绝大多数应用中，假设温度高达 450°C，没有极端振动或不当处理，RTD温度传感器每年的漂移不应超过 ±0.02°C。 

仅当无法达到相同的热条件或相同的 RTD温度传感器在结构上存在差异时，才会影响可重复性。